技术资料
君睿技术Semiconductor news
222022-2
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UF3000、UF3000EX 、UF200、UF200SA、UF200A、UF200S、UF190、UF90A全自动探针测试台 ---- UF200 UF30
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无锡君睿科技提供8英寸晶圆检测用高倍金相检测系统（高倍金相显微镜）光学显微镜是一种精密的光学仪器，以其精度高、抗干扰能力强，实现聚焦过程全自动化。 系统采用宽
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UF200、UF200SA、UF200A、UF200S、UF190、UF90A全自动探针测试台作为测试系统的执行设备，探针卡作为测试连接器件，都有着不可替代的重
242022-2
悬臂探针卡接触电阻产生的原因、影响和解决方法 --探针卡定期进行探针污染清理定期保养重要性 一、环氧树脂悬臂探针卡结构图 二、探针信号路径电阻和探针卡接触电阻
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UF3000、UF3000EX、UF200、UF200SA、UF200A、UF200S、UF190、UF90A 全自动探针测试台如何通过Vx works 操作系
242022-2
君睿科技提供半导体设备老旧机械硬盘备份拷贝和数据联网需求整体解决方案 硬盘作为半导体设备，比如探针台ELECTROGLAS EG2001、EG4090和TE
252022-2
君睿科技为半导体客户提供的老旧机械硬盘替换的存储方案是固态存储技术。所谓“固态存储”就是以半导体存储器件为介质，进行数据存储和读取的一组计算。 当今固态存储领域
282022-2
Endura 5500 PVD 维修和腔体耗材等零配件供应 Applied Material Endura 5500 PVD ,是一款通过物理气相沉积溅射工艺，
012022-3
浅谈探针卡的设计需求资料及芯片版图 集成电路芯片版图，是电路系统与集成电路工艺连接的中间环节，通过版图设计，可以将立体电路系统变成一个二维平面图形，再经过工艺加
012022-3
晶圆探针卡，又称探针卡（probe card ），广泛应用于内存、逻辑、消费、驱动、通信IC等科技产品的晶圆测试。当IC设计完成后，晶圆厂代工制造完成尚未切割封
012022-3
中国电科58所顾工，陈工于2015年8月，发表再《电子与封装》第15卷第8期，题为《探针卡nA级漏电故障判断与分析》一文，详细分析了CP测试过程中发现的Na级漏
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UF200A探针台操作流程1． 加载产品程序 load prober device 根据产线需要，加载探针台产品的程序，内容包括晶粒大小die size , 芯
032022-3
提高光刻机的定位精度，是光刻机研究的主要方向，光刻机越来越高的运动精度，对于周围环境的要求也越来越高，而周围环境的振动干扰以及光刻机工作时产生的振动干扰，会对光
032022-3
光刻工艺流程集成电路的制作工序是一个复杂的过程,其制作工艺过程为硅片制备 一硅片清洗 一气相沉积底膜 一 旋转涂膜 一 软烘 一 对准与曝光一 曝光后烘焙 一
042022-3
半导体设备操作系统是如何完成开机到操作系统之前的工作的？ 浅谈半导体设备开机流程和主引导分区（MBR） 一、 半导体设备主机操作系统开机流程： 半导体设备，如果
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Nikon stepper I7-I14 步进扫描投影光刻工艺简述 集成电路的制造是一件极为复杂的事情，需要经过近 800 道物理、化学工序。其中有主要的 5
042022-3
提供Nikon stepper I7-I14 、S204光刻机激光步进对准调试和维护 LSA Laser step alignment is the most
072022-3
君睿科技提供半导体设备用硅橡胶、氟橡胶、丁腈橡胶、全氟橡胶密封圈O-RING 君睿科技为客户提供AMC机台、LAM 机台、TEL机台使用的ORING ,其中重
